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Le pôle francais de Spectroscopie de Masse d’Ions Secondaires à Temps de Vol (ToF-SIMS) vous informe sur les possibilités de cette technique d'analyse chimique dédiée aux sciences des matériaux et à la biologie.

Bienvenue

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Présentation du pôle

Le pôle ToFSIMS France a été  créé en mai 2011 lors de la première conférence rassemblant les utilisateurs de cette spectroscopie. Ce pôle regroupe plusieurs laboratoires spécialisés dans l’étude  des surfaces. Cette initiative a pour objectif de fédérer les compétences de ces laboratoires afin de favoriser le développement de cette spectroscopie et des connaissances liées à son utilisation. L’innovation en matière de caractérisation et d’équipement est au cœur de ses préoccupations. Ce pôle  s’appuie sur un partenariat avec Iontof, leader Européen dans la recherche et le développement de cette technique.

Nous vous invitons à nous rejoindre et à participer à nos rencontres thématiques.

2nd Réunion des Utilisateurs Francophones ION-TOF (ToF-SIMS)

ION-TOF (ToF-SIMS) Francophone Users Meeting

29 mars 2012.

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12.05.2011

Actualités

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Les sources cluster

Ces petits amas d'atomes permettent d'augmenter la quantité d'énergie transmise à la surface d'un échantillon. Utilisées pour l'analyse, les sources cluster se diversifient et fournissent de nouvelles solutions d'analyse notamment en matière de profils de concentrations.

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Conférences

8-23 September

18th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, Riva del Garda, Italy.

This is an important conference of the season and we look forward to attending!

webpage: SIMS XVIII

Workshop ToFSIMS, ENSCP 2011

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La première réunion des utilisateurs de ToFSIMS a eu lieu le 12 mai à l'ENSCP de Paris en présence de Markus Therhorst de IONTOF.


Le programme  

Les photographies